金属元素cps？ 金属元素活动顺序表？

耦感等离子体质谱仪大概多少钱?

电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS型号XSERIES 2，是由美国制造的设备。这类仪器主要用于分析各种元素，尤其是在地质学、环境科学、生物医学等领域有着广泛的应用。由于其先进的技术特点，该型号的价格大约在20万美元左右。ICP-MS是一种高精度的分析工具，能够提供快速、灵敏且准确的元素检测。

综上所述，美国热电公司的XSERIES 2 ICP-MS作为一种高端的质谱分析工具，其价格大约在140万元人民币左右，但具体价格还需根据实际情况进行详细评估。

市场定位与应用广泛：MARS系列有MARS 6（智能温控，参考价26万起）、Discover SP - D（科研级，35万起）等型号，广泛应用于环境检测、食品药品安全、地质矿产等领域，还被华谱联测等专业检测机构采购，说明其在市场上有一定的需求和认可度。

综合来看，光谱仪的价格范围很广，从20万元人民币到上百万都有可能。因此，在购买之前，建议您先明确自己的需求，再根据预算选择合适的型号。

尽管耦感等离子体质谱仪具有众多优点，但其价格相对较高，具体价格因品牌、型号、配置等因素而异。一般而言，入门级仪器的价格可能在几十万至数百万人民币之间，而高端型号的价格可能达到千万人民币以上。因此，在选择购买时需根据实际需求和预算综合考虑。

布料en-71低毒标准有哪些

1、欧盟ROHS指令涉及六项有害物质限制，包括镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、六价铬（Cr6+）、多溴联苯（PBBs）和多溴联苯醚（PBDEs）。 遵循欧盟玩具安全指令EN 71和美国ASTM F963，对玩具进行八大重金属溶出量测试，确保儿童安全。

2、EN71标准主要包括以下内容：机械物理性能要求：针对儿童用品的机械物理性能提出严格要求，确保使用过程中不会对孩子造成伤害。包括但不限于边缘、尖端、孔和开口等设计的安全性。对玩具或其他儿童用品的稳固性和稳定性有要求。对可拆卸部件的强度和耐用性有明确规定。

3、EN71标准分为11个部分，主要包括以下内容：EN711：物理和机械性能测试，主要检查玩具的锐利边缘、拉力和压力承受能力，确保玩具在使用过程中的物理安全性。EN712：阻燃测试，针对毛绒玩具、丝织品玩具及头饰等，确保玩具在燃烧时的安全性，减少火灾风险。

TEM测试常见问题及解答(二)

. 电子枪放电问题：在确保电压和灯丝电流正常的情况下，若仍无法看到光线，可能是电子枪阀未打开或shut阀挡住了光线，需检查相关设置和阀门状态。1 标尺大小的标注：标尺大小通常采用5等数进行标注，具体形式依据实验需求和标准规定。

二次衍射是指电子在物质内部多次散射后，在不应出现衍射的地方出现的衍射现象。在确定晶体对称性时，必须注意这种现象。二次衍射点是衍射波再次发生衍射的结果，通常出现在轴上，其强度也增强。超晶格是由两种晶格匹配良好的半导体材料以严格周期性生长而成，每层材料厚度在100nm以下。

透射电镜的样品制备 透射电镜测试的样品制备是一个复杂而精细的过程，特别是针对一些难以直接观察的样品。以下是聚焦离子束（FIB）制备TEM样品的基本流程：Platinum dePOSition：在待制备TEM试样的表面蒸镀Pt保护覆层，以避免最终的TEM试样受到Ga离子束导致的辐照损伤。

照明系统：包括电子枪、高压发生器、加速管和照明透镜系统等。成像系统：包含物镜、中间镜、投影镜和光阑等。其他系统：观察和照相系统、试样台和真空系统。样品测试与制样：广泛适用性：TEM可用于测试多种样品，如碳纳米材料、纳米金属氧化物、锂电材料、金属合金、陶瓷、半导体等。

透射电镜的成像信息 透射的电子束不仅包含电子的强度信息，还包含相位以及周期性的信息。这些信息是透射电镜成像的基础。通过收集和处理这些信息，可以得到样品的形貌、结构、成分等多种信息。TEM样品的制备 高质量的TEM样品是获得准确测试结果的关键。

X射线光电子能谱(XPS)谱图分析

1、X射线光电子能谱图的解读方法如下：全谱分析：元素定性：首先观察全谱图，根据谱线的位置来初步确定样品中存在的元素。不同元素的光电子具有不同的结合能，因此可以在谱图上区分开来。注意荷电校正：由于样品表面电子亏损可能导致能量偏差，因此在进行元素定性分析前，需要进行荷电校正。通常使用碳元素的特定谱线作为基准峰进行校准。

2、X射线光电子能谱（XPS）谱图分析 X射线光电子能谱（XPS）是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，它利用X射线照射样品表面，使样品原子中的电子脱离成为自由电子，通过测量这些光电子的能量分布，可以获得样品表面的元素组成、化学状态、分子结构等信息。

3、X射线光电子能谱（XPS）谱图分析 X射线光电子能谱（XPS）是一种重要的表面分析技术，它利用X射线照射样品表面，使原子中的电子受激发射出来，通过测量这些光电子的能量分布，可以获得样品表面的元素组成、化学状态及电子结构等信息。

4、X射线光电子能谱（XPS）是一种重要的表面分析技术，能够提供样品表面的元素组成、化学状态以及电子结构等信息。以下是对XPS谱图的详细分析：X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理是：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。